Gtti 矽英科技股份有限公司

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整合可靠度試驗

故障分析試驗

最新消息

矽英科技新竹總公司即日起遷移至公道五路德安科技園區三期.

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相關網站

　

　

	CNLA & IECQ	www.cnla.org.tw、 www.iecq.org

	專業認證機構

　

	ETAC / Kusumoto	www.etac.kusumoto.co.jp

	Oven，Chamber，HAST，TCT，TST，真空/無塵/無氧化生產線用Oven
	SIR13：電路板，先進封裝，特殊材料等 IM/IR量測系統（也可測電流）
	MLR22：BGA/CSP/Flip Chip 錫球接合度及低阻可靠度量測系統
	ED-70S：SMT材料/製程可靠度分析系統【完全符合IPC9701及EIAJ7407規範】
	TCI50/MCL41/TLE60：MLCC，Chip C/R/L 可靠度量測系統
	EM/TDDB：IC R/C Reliability 測試系統
	網路連結 ”Chamber & Tester” 整合監控系統

　

	Envirotromics	www.envirotronics.com

	特製Chamber：AGREE，HASS/HALT，ESS，高空，防塵，低溫低濕

　

	Everbeing	www.ebprober.com.tw

	Probe Station, Laser Cutter 及相關耗材
	四點探針表面電阻係數量測
	Compact Probe Station
	Hot Chuck
	LCD Probe Station
	PCB.Inspection Station
	Micromanipulator
	www.probershopping.cn

　

	ICT	www.ICT-probe.com

	Probe Card 製作用耗材

　

	Korima/TNP	www.korima.com、www.tnpinstruments.com

	Laser Glass Cutter (CO₂ Laser)
	Aging Chamber
	EMMI - Front / Back Side
	DUV Microscope
	IR Microscope
	6400 LCD Probe Station
	PRS-1000 : Protein Review Station

　

	NSC	www.nscnet.co.jp

	PS102W/PS102S：硫酸硝酸 IC 開蓋機
	ES301/312/371/401：R.I.E./Plasma Etching System （適用於IC/Wafer）
	FB101/102：IC Curve Tracer，IC Open/Short，Dynamic IDDQ量測系統
	FA201：FA用ATE Tester （CurveTracer/DynamicIDDQ/Function）
	BA101: 電腦控制 IC/Wafer 正反面 Lapping Machine (resolution : 1um)

　

	NewWave	www.new-wave.com

	EzLaze
	QuickLaze

　

	QFI	www.quanturnfocus.com

	FA Microscopy : emmi / XIVA / LISM / Hot Spot 一機多Sensor機台
	Infrared Scope II : Infrared Micro Thermal Mapping

　

	UltraTec	www.ultratecusa.com

	ASAP-1/ARC-lite：Backside EMMI/FIB Sample準備用工具【機械開蓋】
	Ultrapol , Multipol : Cross Section Sample Lapping Machine

　

	TTM

	Auto Handler 用之Contact Pin及模組

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