委測服務==

一般項目

特殊項目

整合可靠度試驗

故障分析試驗

最 新 消 息

 

矽英科技新竹總公司即日起遷移至公道五路德安科技園區三期.

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Gtti通過CNLA/IECQ

國際認證

　
　

RA/FA委測實驗室：（CNLA, IECQ認證通過）【統包式服務】

設備 >

HALT/HASS , OLT , Vibration , Hi-Rel, Oven, 溫濕Chamber, PCT, HAST, TCT, TST, Re-flow, 鹽霧機, SIR, MLR, Probe Station, EMMI, RIE, De-cap

試驗 >

複合式振動試驗 , OLT , 振動 , HiRel, 環境模擬可靠度測試, 電路板IM/IR/VIA可靠度測試, 錫球接合可靠度測試, 偏壓測試, 壽命測試, 故障分析, 分析Sample準備

可靠度量測設備行銷

[ 依製造商分類 ]
Oven, Chamber, HAST, TCT, TST, 真空/無塵/無氧化生產線用Oven
特製Chamber：AGREE, HASS/HALT, ESS, 高空, 防塵, 低溫低濕
SIR13：電路板, 先進封裝, 特殊材料 等 IM/IR量測系統（也可測電流）
MLR22：BGA/CSP/Flip Chip 錫球接合度及低阻可靠度 量測系統
ED70S：SMT材料/製程 可靠度分析系統 【完全符合IPC9701及EIAJ7407規範】
TCI50/MCL41/TLE60：MLCC, Chip C/R/L 可靠度量測系統
EM/TDDB：IC R/C Reliability 測試系統
網路連結 ”Chamber & Tester” 整合監控系統
　 　

IC故障分析設備行銷

[ 依製造商分類 ]
PS102W/PS102S：硫酸 硝酸 IC 開蓋機
ES301/371/401：R.I.E./Plasma Etching System （適用於IC/Wafer）
FB101/102：IC Curve Tracer, IC Open/Short, Dynamic IDDQ量測系統
FA201：FA用ATE Tester （CurveTracer/DynamicIDDQ/Function）
ASAP-1/ARC-lite：Backside EMMI/FIB Sample準備用工具【機械開蓋】
Probe Station, Laser Cutter 及相關耗材
BA101：電腦控制 IC/Wafer 正反面 Lapping Machine (resolution : 1um)
FA Microscopy：emmi / XIVA / LISM / Hot Spot 一機多Sensor機台
Infrared Scope II：Infrared Micro Thermal Mapping
Ultrapol , Multipol：Cross Section Sample Lapping Machine

LCD及光學產品

[ 依製造商分類 ]
Laser Glass Cutter (CO2 Laser)

Aging Chamber

EMMI - Front / Back Side
　 　

Probe Card 相關耗材

[ 依製造商分類 ]

Probe Card 製作用耗材

Contact Pin 配合IC Auto Handler用
　 　

四點探針

[ 依製造商分類 ]

表面電阻係數量測

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