CNLA & IECQ

www.cnla.org.tw、 www.iecq.org

ETAC / Kusumoto

www.etac.kusumoto.co.jp

Oven, Chamber, HAST, TCT, TST,真空/无尘/无氧化生产线用Oven

SIR13：电路板，先进封装，特殊材料 等 IM/IR量测系统（也可测电流）

MLR22：BGA/CSP/Flip Chip 锡球接合度及低阻可靠度 量测系统

ED-70S：SMT材料/制程 可靠度分析系统 【完全符合IPC9701及EIAJ7407规范】

TCI50/MCL41/TLE60：MLCC，Chip C/R/L 可靠度量测系统

EM/TDDB：IC R/C Reliability 测试系统

网络连结 ”Chamber & Tester” 整合监控系统

Envirotromics

www.envirotronics.com

Oven，Chamber，HAST，TCT，TST，真空/无尘/无氧化生产线用Oven

特制Chamber：AGREE，HASS/HALT，ESS，高空，防尘，低温低湿

Everbeing

www.ebprober.com.tw

Probe Station, Laser Cutter 及相关耗材

四点探针表面电阻系数量测

Hot Chuck

ICT

http://www.ICT-probe.com

Probe Card  制作用耗材

Korima/TNP

www.korima.com﹜www.tnpinstruments.com

Laser Glass Cutter (CO₂ Laser)

Aging Chamber

EMMI - Front / Back Side

NSC

www.nscnet.co.jp

PS102W/PS102S：硫酸 硝酸 IC 开盖机

ES301/371/401：R.I.E./Plasma Etching System （适用于IC/Wafer）

FB101/102：IC Curve Tracer，IC Open/Short，Dynamic IDDQ量测系统

FA201：FA用ATE Tester （CurveTracer/DynamicIDDQ/Function）

BA101：计算机控制 IC/Wafer 正反面 Lapping Machine (resolution : 1um)

NewWave

www.new-wave.com

EzLaze

QuickLaze

QFI

www.quantumfocus.com

FA Microscopy：emmi / XIVA / LISM / Hot Spot 一机多 Sensor 机台

Infrared Scope II：Infrared Micro Thermal Mapping

UltraTec

www.ultratecusa.com

ASAP-1/ARC-lite：Backside EMMI/FIB Sample准备用工具【机械开盖】

Ultrapol , Multipol：Cross Section Sample Lapping Machine

TTM

Auto Handler 用之contact pin及模块