委测服务==

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整合可靠度试验

故障分析试验

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Gtti新竹总公司即日起迁移至公道五路德安科技园区三期.

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Gtti通过CNLA/IECQ

国际认证

　
　

RA/FA委测实验室：（CNLA, IECQ认证通过）【统包式服务】

扢掘 >

HALT/HASS , OLT , Vibration , Hi-Rel, Oven, 温湿Chamber, PCT, HAST, TCT, TST, Re-flow, 盐雾机, SIR, MLR, Probe Station, EMMI, RIE, De-cap

试验 >

复合式振动试验 , OLT , 振动 , HiRel, 环境模拟可靠度测试, 电路板IM/IR/VIA可靠度测试, 锡球接合可靠度测试, 偏压测试, 寿命测试, 故障分析, 分析Sample准备

可靠度量测设备行销

[ 依制造商分类 ]

Oven, Chamber, HAST, TCT, TST, 真空/无尘/无氧化生产线用Oven
特制Chamber：AGREE, HASS/HALT, ESS, 高空, 防尘, 低温低湿
SIR13：电路板, 先进封装, 特殊材料 等 IM/IR量测系统（也可测电流）
MLR22：BGA/CSP/Flip Chip 锡球接合度及低阻可靠度 量测系统
ED70S：SMT材料/制程 可靠度分析系统 【完全符合IPC9701及EIAJ7407规范】
TCI50/MCL41/TLE60：MLCC, Chip C/R/L 可靠度量测系统
EM/TDDB：IC R/C Reliability 测试系统
网络连结 ”Chamber & Tester” 整合监控系统
　 　

IC故障分析设备行销

[ 依制造商分类 ]

PS102W/PS102S：硫酸硝酸IC开盖机
ES301/371/401：R.I.E./Plasma Etching System （适用于IC/Wafer）
FB101/102：IC Curve Tracer, IC Open/Short, Dynamic IDDQ量测系统
FA201：FA用ATE Tester （CurveTracer/Dynamic IDDQ/Function）
ASAP-1/ARC-lite：Backside EMMI/FIB Sample准备用工具【机械开盖】
Probe Station, Laser Cutter 及相关耗材
BA101 : 计算机控制 IC/Wafer 正反面 Lapping Machine (resolution : 1um)
FA Microscopy : emmi / XIVA / LISM / Hot Spot 一机多 Sensor 机台
Infrared Scope II : Infrared Micro Thermal Mapping
Ultrapol , Multipol : Cross Section Sample Lapping Machine

LCD及光学产品

[ 依制造商分类 ]

Laser Glass Cutter (CO2 Laser)

Aging Chamber

EMMI - Front / Back Side

　 　

Probe Card 相关耗材

[ 依制造商分类 ]

Probe Card 制作用耗材

Contact Pin 配合IC Auto Handler用

　 　

四点探针

[ 依制造商分类 ]

表面电阻系数量测

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